l seminario, dictado por Bob McCarthy y Oscar Barrientos, provee a los participantes un entendimiento teórico y operativo de la medición independiente de fuente y una base sólida en la aplicación de análisis SIM en el diseño de sistemas de audio complejos. El seminario da un breve repaso de la teoría SIM y el desarrollo de sistema, seguido por una discusión extensa sobre los procedimientos de uso en campo para el analizador de audio SIM 3. The seminar then extends the foundation of SIM measurement into sound system design. Los participantes además verán interacciones complejas de altoparlantes en una variedad de configuraciones y ambientes acústicos desde los puntos de vista de fase, frecuencia y respuestas de impulso.

Del 1 al 5 de marzo y del 30 de agosto al 3 de septiembre, se realizarán dos sesiones en castellano por Oscar Barrientos en Ciudad de México. Del 27 al 30 de abril, Bob McCarthy, quien ha estado involucrado con SIM desde su inicio, estará dictando un seminario en inglés, con traducción a castellano disponible.

El registro para los seminarios está disponible en la página web de Meyer Sound http://www.meyersound.com/education/calendar.php